时钟产生 - ON Semiconductor
时钟产生 · 安森美逻辑IC产品
时钟产生 - ON Semiconductor
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锁相环(PLL)时钟产生及合成
安森美半导体提供时钟驱动器、时钟模块、PLL时钟产生器、相位/频率检测器、Skew管理器、压控振荡器(VCO)及零延迟缓冲器。
晶体振荡器(XO)时钟模块 – 压控晶体振荡器(VCXO)时钟模块
安森美半导体提供硅晶体振荡器时代模块。
锁相环(PLL)相位检测器-锁相环(PLL)频率检测器
安森美半导体提供基于锁相环(PLL)的相位/频率检测器。
锁相环时钟合成器
安森美半导体提供锁相环(PLL)时钟产生器及合成器，产生精密的时钟信号。
扩频时钟 – EMI降低时钟
安森美半导体提供使用扩频技术来降低电磁干扰(EMI)的时钟器件。
压控振荡器
安森美半导体提供基于锁相环(PLL)的压控振荡器(VCO)。
零延迟缓冲器(ZDB)
安森美半导体提供基于锁相环(PLL)的零延迟缓冲器(ZDB)。
安森美半导体对器件进行一系列可靠性应力测试，测试器件涵盖了ON Semiconductor所有的产品系列。采集可靠性数据是安森美半导体可靠性审计项目的一部分, 也是我们正常产品合格性试验和重新鉴定程序的一部分。此数据定期更新, 涵盖最新的测试结果。基本上每季度更新一次。当前数据可从ON Semiconductor网站找到。
您可使用安森美的在线FIT和平均故障间隔时间(MTBF)/平均无故障时间(MTTF) 计算器或下载视窗应用程序，帮助您从安森美产品型号中搜寻可靠性数据。您也可订购该应用程序的光盘。此外ON Semiconductor也提供pdf格式的可靠性数据概要。
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